BOOKMARK: technisches-messen.de

tm ist die Fachzeitschrift für anwendungsbezogene industrielle Messtechnik, als eine der wesentlichen Komponenten für Automatisierung, Prozess- überwachung, Qualitätskontrolle und Sicherheitstechnik. tm dient dem Informations- und Erfahrungsaustausch zwischen den Entwicklern anwendungsreifer Sensoren, Messsysteme und Messverfahren und den Herstellern und Messtechnikern in der Anwendung.

tm ist Organ der AMA (Fachverband für Sensorik e. V.) und der NAMUR (Interessensgemeinschaft Automatisierungstechnik in der Prozessindustrie) mit Mitteilungen der GMA (VDI/VDE-Gesellschaft Mess- und Automatisierungstechnik).

79. Jahrgang 2012          Gegründet: 1934
Erscheinungsweise: 11 x jährlich (Doppelheft Juli/August)
Die Mediadaten für 2011 finden Sie hier.

tm-typische Themenbereiche sind dieHerstellung und Eigenschaften neuer Sensoren für die Messtechnik im industriellen Bereich Beschreibung neuer Messverfahren hard- und software-mäßige Verarbeitung und Auswertung von Messsignalen zur Gewinnung von Messwerten Ergebnisse aus dem Einsatz neuer Messsysteme und -verfahren
Diese Themenbereiche werden in Hauptaufsätzen, in der Vorstellung neuer Produkte und Literatur sowie in aktuellen Mitteilungen behandelt.

tm bietetweite Verbreitung in der einschlägigen FachweltBeiträge mit hohem Praxisbezug konstruktive Begutachtung aller Beiträge durch Fachexperten Online-Version inkl. freiem Heft (tm-online), Inhaltsverzeichnis per E-Mail (Toc-Alert), Schwerpunkthefte zu aktuellen Themen, gelistet in ISI Current Contents Engineering, Computing &Technology.

Für Autoren Autoren werden gebeten, ihren Beitrag unter Berücksichtigung der Richtlinien für Autoren und mithilfe der Formatvorlagen in Word oder LaTex zu verfassen.
Nutzen Sie zur Einreichung von Beiträgen unser Autorenportal oder senden Sie ihn direkt an den verantwortlichen Herausgeber:

tm [at] ipm [dot] fhg [dot] de (Prof. Dr. Elmar Wagner)
Fraunhofer-Institut für Physikalische Messtechnik
Heidenhofstraße 8
79110 Freiburg
Deutschland

Redaktion im Verlag:
julia [dot] multerer [at] oldenbourg [dot] de (Julia Multerer)
Oldenbourg Wissenschaftsverlag GmbH
Lektorat MINT
Rosenheimer Str. 145
81671 München 

Heft 2/2012 enthält Beiträge zu unterschiedlichen Themen
Inhaltsverzeichnis ansehen
Erscheinungstermin: Februar 2012

Themenhefte

2012

Heft 1      SENSOR+TEST Konferenzen 2011 in Nürnberg

2011

Heft 1      Impedanzspektroskopie

Heft 3      Albert Weckenmann

Heft 4      XXIV. Messtechnisches Symposium 2010

Heft 5      Lasermethode in der Strömungsmesstechnik

Heft 9      Bildverarbeitung in der Automatisierungs- und Messtechnik

Heft 11    20. IMEKO TC-2 Symposium on Photonics in Measurement

Heft 12    Trends in der prozessanalytischen Messtechnik

2010 

Heft 2      SENSOR 2009 Konferenz
Heft 3      Der pH-Wert wird 100 Jahre alt

Heft 4      XXIII. Messtechnisches Symposium 2009 in Bremen

Heft 6      OPTO- und Infrarot-Konferenzen/SENSOR+TEST 2009

Heft 7-8   Mikrowellen- und Millimeterwellenmesstechnik

Heft 10    Verteilte Messsysteme

2009
Heft 2      Fertigungmesstechnik zu Ehren von Prof. Wilkening
Heft 4      XXII. Messtechnisches Symposium 2008 des AHMT e.V. in Dresden, Teil 1
Heft 5      International Conference on Precision Measurement (ICPM2008), Part 1: Nanomeasuring and Nanopositioning Technology
Heft 6      XXII. Messtechnisches Symposium 2008 des AHMT e.V. in Dresden, Teil 2
Heft 7-8   International Conference on Precision Measurement (ICPM2008), Part 2: Precision Measurement and Sensor Technology
Heft 12    Energieautarke Sensorik

2008

Heft 1      Terahertz-Messtechnik für industrielle Anwendungen (R. Beigang, E. Wagner)

Heft 2      Sensor 2007 in Nürnberg (R. Lerch)

Heft 4      XXI. Messtechnisches Symposium 2007 in Paderborn (B. Henning)

Heft 5      Neue Strategien der Mess- und Prüftechnik für die Produktion von Mikrosystemen und Nanostrukturen (A. Weckenmann)Heft 6      Messverfahren zur Materialprüfung, Teil 1 (O. Kanoun)

Heft 7-8   Bildverarbeitung in der Mess- und Automatisierungstechnik, Teil 1 (F. Puente León, M. Heizmann)

Heft 9      Messverfahren zur Materialprüfung, Teil 2 (O. Kanoun)

Heft 10     Bildverarbeitung in der Mess- und Automatisierungstechnik, Teil 2 (F. Puente León, M. Heizmann)

Zusatzmaterial